PCS Analytika

Firma Hitachi High-Tech Analytical Science je členem skupiny Hitachi High-Tech Group a již více než 45 let patří k předním světovým výrobcům analytických systémů. Firma se specializuje na vývoj, výrobu a dodávky analyzátorů pro materiálovou analýzu jak v laboratořích, tak i přímo v terénu nebo výrobních provozech. Dodávané přístroje pracují na principu opticko emisní- spektrometrie (OES), rentgenfluorescenční spektrometrie (XRF) a na principu laserově buzené spektrometrie (LIBS).

Spektrometry jsou analyzátory chemického složení kovových i nekovových materiálů, které se využívají k pozitivní materiálové identifikaci neboli PMI (Positive Material Identification), ke kontrole kvality a jakosti materiálů (QC/QA), ke kontrole záměny materiálu a k třídění vratného materiálu. Pro každou aplikaci je vhodný jiný typ analyzátoru využívající rentgenové fluorescence (XRF), optické emise (OES) nebo buzení laserem (LIBS). Pro rychlý přehled o vhodnosti a výhodách jednotlivých metod slouží následující tabulka:

Opticko-emisní spektrometry

Při analýze chemického složení opticko-emisním spektrometrem dochází k excitaci elektronů v analyzovaném vzorku vlivem tepelného záření (obloukem nebo jiskrou). Při návratu elektronu z excitované hladiny, dochází k vyzáření fotonu s určitou vlnovou délkou, která je charakteristická pro daný prvek.

Vyzářené fotony, které jsou analyzovány, mají vlnové délky oblasti vyditelného světla a v UV oblasti, tedy 150-800 nm. Emitované záření je rozloženo na optické mříži, která má cca 2000 vrypů/mm. Takto rozložené záření dopadá na polovodičové CCD detektory, které analyzují intenzitu záření o jednotlivých vlnových délkách. Tato intenzita je přepočtena na procentuální obsah jednotlivých prvků pomocí porovnání s meřením certifikovaných referenčních materiálů (CRM). Tento výpočet samozřejmě provádí spektrometr automaticky a uživatel dostane informaci přesném chemickém složení během několika vteřin.

OES spektrometry Hitachi jsou vybaveny unikátní technologií Jet-Strem, která umožňuje analyzovat zakřivené plochy, nebo velmi malé vzorky (například dráty). Největší výhodu OES je fakt, že se jedná o jedinou metodu, kterou jsem schopni analyzovat obsah uhlíku dusíku a jiných lehkých prvků, a to nejen v ocelích a litinách.

V naší nabídce máme celou řadu mobilních i stacionárních opticko emisních spektrometrů PMI-MASTER resp. FOUNDRY-MASTER

Laserem buzené spektrometry

Metoda LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) je laserová spektrometrie, která zkoumá záření mikroplazmatu vytvořeného na povrchu zkoumaného vzorku zářením pevnolátkového  pulsního laseru s velmi krátkou dobou trvání pulsu v jednotkách nanosekund.  Jedná se o velmi rychle se rozvijící techniku, která má potenciál analyzovat všechny prvky periodické ve vzorcích všech typů. Tato technika nabízí pro analýzy kovových materiálů několik významných výhod, zejména:

  • Analyzátory Vulcan LIBS jsou ruční, bateriově napájené přístroje
  • Analýza je velmi rychlá, doba analýzy 1 sekunda
  • Lze definovat jako nedestruktivní techniku, odpařené množství materiálu je na úrovni ng
  • Nízké limity detekce

Rentgenfluorescenční spektrometry

Pro kvalitativní i kvantitativní analýzy metodou rentgenfluorescenční spektrometrie se využívá interakce primárního rtg záření se zkoumaným vzorkem. Tím dojde k vybuzení charakteristického sekundárního fluorescenčního záření, které je následně detekováno vhodným detektorem. Protože na vzniku spektra se podílejí pouze elektrony vnitřních zaplněných slupek, je fluorescenční spektrum ve srovnání s optickoemisním spektrem výrazně jednodušší. Díky poloze jednotlivých čar lze i bez kalibrace stanovit, o který prvek se ve spektru jedná a podle intenzity záření lze po nakalibrování stanovit, jaká je koncentrace nebo tloušťka vrstvy daného prvku.

Firma Hitachi dodává na náš trh jak ruční, bateriově napájené analyzátory řady X-MET, tak i stolní rtg spektrometry řady XStrata a řady FT.

KritériumXRFLIBSOES
VelikostRučníRučníMobilní/přenosný/
stacionární
Váha1.5kg (s baterií)1.5kg (s baterií)od 15kg (+ láhev s Ar)
Detekční limitNízkýStředníVelmi nízký
ReprodukovatelnostVelmi dobráDobráVelmi dobrá
OvládáníSnadnéSnadnéObtížnější (vyžaduje přípravu vzorků, rekalibraci aj.)
VzorkyTuhá látka, prášek, kapalinaPevná látkaElektricky vodivý kov
Příprava vzorkůOčištění, technologie nejméně závislá na přípravě vzorkuOčištěníBroušení nebo leštění
Vzorek po analýzeNepoškozenVelmi malá, sotva viditelná spálená oblastSpálená oblast o Ø 5 mm
KalibracePro všechny kovy, geologii , těžební průmysl, dřevo, drahé kovy atd.Standartní kalibrace pro běžné slitinyKalibrace záleží na bázovém prvku
Čas měřeníOd 2 sekund do několika minut, v závislosti na materiálu a požadované přesnosti1 sekundaJiskra – 15s, Oblouk – 3s