Hitachi High-Tech
Firma Hitachi High-Tech Analytical Science je členem skupiny Hitachi High-Tech Group a již více než 45 let patří k předním světovým výrobcům analytických systémů. Firma se specializuje na vývoj, výrobu a dodávky analyzátorů pro materiálovou analýzu jak v laboratořích, tak i přímo v terénu nebo výrobních provozech. Dodávané přístroje pracují na principu opticko emisní- spektrometrie (OES), rentgenfluorescenční spektrometrie (XRF) a na principu laserově buzené spektrometrie (LIBS).
Spektrometry jsou analyzátory chemického složení kovových i nekovových materiálů, které se využívají k pozitivní materiálové identifikaci neboli PMI (Positive Material Identification), ke kontrole kvality a jakosti materiálů (QC/QA), ke kontrole záměny materiálu a k třídění vratného materiálu. Pro každou aplikaci je vhodný jiný typ analyzátoru využívající rentgenové fluorescence (XRF), optické emise (OES) nebo buzení laserem (LIBS). Pro rychlý přehled o vhodnosti a výhodách jednotlivých metod slouží následující tabulka:
Opticko-emisní spektrometry
Při analýze chemického složení opticko-emisním spektrometrem dochází k excitaci elektronů v analyzovaném vzorku vlivem tepelného záření (obloukem nebo jiskrou). Při návratu elektronu z excitované hladiny, dochází k vyzáření fotonu s určitou vlnovou délkou, která je charakteristická pro daný prvek.
Vyzářené fotony, které jsou analyzovány, mají vlnové délky oblasti vyditelného světla a v UV oblasti, tedy 150-800 nm. Emitované záření je rozloženo na optické mříži, která má cca 2000 vrypů/mm. Takto rozložené záření dopadá na polovodičové CCD detektory, které analyzují intenzitu záření o jednotlivých vlnových délkách. Tato intenzita je přepočtena na procentuální obsah jednotlivých prvků pomocí porovnání s meřením certifikovaných referenčních materiálů (CRM). Tento výpočet samozřejmě provádí spektrometr automaticky a uživatel dostane informaci přesném chemickém složení během několika vteřin.
OES spektrometry Hitachi jsou vybaveny unikátní technologií Jet-Strem, která umožňuje analyzovat zakřivené plochy, nebo velmi malé vzorky (například dráty). Největší výhodu OES je fakt, že se jedná o jedinou metodu, kterou jsem schopni analyzovat obsah uhlíku dusíku a jiných lehkých prvků, a to nejen v ocelích a litinách.
V naší nabídce máme celou řadu mobilních i stacionárních opticko emisních spektrometrů PMI-MASTER resp. FOUNDRY-MASTER
Laserem buzené spektrometry
Metoda LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) je laserová spektrometrie, která zkoumá záření mikroplazmatu vytvořeného na povrchu zkoumaného vzorku zářením pevnolátkového pulsního laseru s velmi krátkou dobou trvání pulsu v jednotkách nanosekund. Jedná se o velmi rychle se rozvijící techniku, která má potenciál analyzovat všechny prvky periodické ve vzorcích všech typů. Tato technika nabízí pro analýzy kovových materiálů několik významných výhod, zejména:
- Analyzátory Vulcan LIBS jsou ruční, bateriově napájené přístroje
- Analýza je velmi rychlá, doba analýzy 1 sekunda
- Lze definovat jako nedestruktivní techniku, odpařené množství materiálu je na úrovni ng
- Nízké limity detekce
Rentgenfluorescenční spektrometry
Pro kvalitativní i kvantitativní analýzy metodou rentgenfluorescenční spektrometrie se využívá interakce primárního rtg záření se zkoumaným vzorkem. Tím dojde k vybuzení charakteristického sekundárního fluorescenčního záření, které je následně detekováno vhodným detektorem. Protože na vzniku spektra se podílejí pouze elektrony vnitřních zaplněných slupek, je fluorescenční spektrum ve srovnání s optickoemisním spektrem výrazně jednodušší. Díky poloze jednotlivých čar lze i bez kalibrace stanovit, o který prvek se ve spektru jedná a podle intenzity záření lze po nakalibrování stanovit, jaká je koncentrace nebo tloušťka vrstvy daného prvku.
Firma Hitachi dodává na náš trh jak ruční, bateriově napájené analyzátory řady X-MET, tak i stolní rtg spektrometry řady XStrata a řady FT.
Kritérium | XRF | LIBS | OES |
Velikost | Ruční | Ruční | Mobilní/přenosný/ stacionární |
Váha | 1.5kg (s baterií) | 1.5kg (s baterií) | od 15kg (+ láhev s Ar) |
Detekční limit | Nízký | Střední | Velmi nízký |
Reprodukovatelnost | Velmi dobrá | Dobrá | Velmi dobrá |
Ovládání | Snadné | Snadné | Obtížnější (vyžaduje přípravu vzorků, rekalibraci aj.) |
Vzorky | Tuhá látka, prášek, kapalina | Pevná látka | Elektricky vodivý kov |
Příprava vzorků | Očištění, technologie nejméně závislá na přípravě vzorku | Očištění | Broušení nebo leštění |
Vzorek po analýze | Nepoškozen | Velmi malá, sotva viditelná spálená oblast | Spálená oblast o Ø 5 mm |
Kalibrace | Pro všechny kovy, geologii , těžební průmysl, dřevo, drahé kovy atd. | Standartní kalibrace pro běžné slitiny | Kalibrace záleží na bázovém prvku |
Čas měření | Od 2 sekund do několika minut, v závislosti na materiálu a požadované přesnosti | 1 sekunda | Jiskra – 15s, Oblouk – 3s |