
NEX OL
NEX OL
Procesní analyzátor tloušťky povlaků nebo prvkových koncentrací s možností více měřicích hlav.
On-line real-time analýza pomocí rentgenové energiově disperzní fluorescenční metody (EDXRF)
Moderní EDXRF spektrometr 3. generace pro procesní prvkovou analýzu v proudících kapalinách nebo pro kontrolu prvkových koncentrací či tlouštěk povlaků na plochých či na cívkách navinutých materiálech.
|
Funkce a výhody EDXRF spektrometru NEX OL
| ![]() |
Analýza od hliníku ₁₃Al po uran ₉₂U
Pro dosažení výborné analytické výkonnosti a spolehlivosti je měřicí hlavová sestava u tohoto spektrometru odvozena od stolního analyzátoru Rigaku NEX QC⁺ vysokým rozlišením. Díky této osvědčené technologii poskytuje Rigaku NEX OL rychlou, nedestruktivní, víceprvkovou analýzu – od úrovně (ppm) po vysoká hmotnostní procenta (% hm) – s prvkovým rozsahem od hliníku (Al) po uran (U). Spektrometr NEX OL je vybavený 50kV rentgenkou a SDD detektorem, což ve spojení se standardní sestavou optimalizačních primárních filtrů umožnuje použití u široké škály aplikací.
Tloušťka povlaku a jeho složení
![]() |
Kromě analýzy proudících kapalin je Rigaku NEX OL určený též pro analýzy plochých materiálů se schopností provádět víceprvkovou analýzu nebo stanovení tloušťky povlaku. Typicky je měřicí hlava uložena v pevné poloze nad analyzovaným materiálem tak, aby byla vzdálenost hlavy od měřeného povrchu konstantní.
Široký rozsah aplikací
![]() | Nejběžnějších aplikací zahrnují:
|
Aplikační zprávy
V případě zájmu o některou z níže uvedených aplikačních zpráv kontaktujte, prosím,
zastoupení Rigaku ART v ČR a v SR: https://pcsanalytika.cz/kontakty/#formular,
nebo přímo výrobce Applied Rigaku Technologies: https://rigakuedxrf.com/pr-apps.php .
Seznam momentálně dostupných aplikačních zpráv k Rigaku NEX OL/XT
1059_Rigaku NEX XT_Sulfur in Oil.pdf
1306_Rigaku NEX OL_Chemical Baths.pdf
1336_Rigaku NEX OL_Gold Processing.pdf
1337_Rigaku NEX OL_Cu Treatment Solution.pdf
1535_Rigaku NEX OL_S in Fuel.pdf
1539_Rigaku NEX OL_TPA 2015 12.pdf
Konfigurace NEX OL
Konfigurace NEX OL pro měření proudu kapalin Konfigurace pro měření plochých materiálú nebo materiálů na cívkách
![]() | ![]() |
Princip metody XRF
![]() | Metoda XRF Při rentgenové fluorescenci (XRF) dochází v důsledku absorpce světla (fotonu) z rentgenové lampy k vyražení elektronu na vnitřním atomovém orbitalu. Elektron z vyššího orbitalu (tj. z hladiny s vyšší energií) přeskočí do uvolněné pozice v neobsazeném nižším orbitalu. Během tohoto přechodu je emitován foton, jehož energie je rovna rozdílu energií mezi těmito dvěma orbitaly. Tyto energetické rozdíly jsou pro určitý prvek vždy stejné a emitovaný foton je tak jedinečnou charakteristickou energií (keV) tohoto prvku. Pro charakteristické energie prvků pak počet detekovaných fotonů za jednotku času (počet za sekundu) odpovídá koncentraci těchto prvků v měřeném materiálu. |
Rtg. analýza bez radioizotopů
EDXRF spektrometry Rigaku mají vynikající výkonnost bez použití nebezpečných radioizotopů
V ropném průmyslu na celém světě se stále používají desítky tisíc radioizotopů k činnostem, které sahají od analytického průzkumu či řízení produkce až po kontroly při distribuci. Přítomnost těchto zdrojů radioizotopů v tak velkém počtu představuje statisticky významnou příležitost k jejich odcizení a následnému zneužití. Na celém světě se nyní považuje radiologický terorismus umožněný používáním radiologických disperzních zařízení (RDD) – často nazývaných „špinavé bomby“ – za mnohem pravděpodobnější než použití jaderného výbušného zařízení. V souvislosti s nedávnou událostí Deepwater Horizon v Mexickém zálivu je na ropném průmyslu, aby posoudil svou odpovědnosti ve vztahu ke inventáři používaných radioizotopů. Bez ohledu na to, jestli se jedná o ochranu zákaznické základny nebo firemních akcionářů, existuje nyní analytická technologie, která do značné míry zmírňuje riziko spojené s technologiemi založenými na izotopech předchozí generace. Kliknutím na níže uvedený odkaz si lze přečíst tento článek:
Špinavé bomby a odpovědnost v ropném průmyslu. Ray Fleming a Robert Tisdale. Petro Ind. News : 11 (3), 2010, str . 34-35 .
Náhled článku:
![]() |
![]() |
Technické specifikace NEX OL
Základní specifikace
- Prvkový rozsah: hliník (Al) až uran (U)
- Multiprvková analýza
Analytická hlava
- Optické uspořádání jako u NEX QC⁺
- Přemístění bez speciálních nástrojů
- Rychlé připojení a odpojení
- Instalace rtg. okénka bez nástrojů
Buzení:
- 50kV rtg. lampa
- 4 W max příkon
- 6 pozic pro primární filtry + clona před lampou
Detektorová část:
- SDD detektor
- Chlazení pomocí Peltierova termoelektrického efektu
Průtoková cela:
- Materiálové provedení v závislosti na typu aplikace
- Výměna okénka bez speciálních nástrojů
- Senzor úniku média
Komunikace:
- MODBUS přes Ethernet konektor
- Čtyři 20mA diskrétní výstupy
- Osm 20mA diskrétních výstupů (volitelně)
- Varovné upozornění: beznapěťový kontakt relé
- Varovný alarm: beznapěťový kontakt relé
- Únik v kabinetu: beznapěťový kontakt relé
- Procesní alarm: beznapěťový kontakt relé
Dostupné konfiguraces:
- Analyzátorová sestava v jednom boxu
- (se zabudovanou průtokovou celou)
- Box s řídicí jednotkou a separátní analyzační hlavou a průtokovou celou
- Více analyzačních hlav
Vstupy:
- 4 – 20mA (výběr kalibrace)
Klasifikace ochrany prostředí:
- Bez klasifikace
- (samostatná hlava / standard NEMA 4 krabicová konfigurace)
- Class 1 Div 1 Groups B, C, D
- Class 1 Div 2 Groups B, C, D
- Klasifikace výbušného prostředí: ATEX zone 2
Pracovní prostředí:
- 0 – 35°C (32 – 95°F)
- (pro jiný teplotní rozsah kontaktujte zastoupení Rigaku)
- Přívod vzduchu (konfigurace dle klasifikace NEMA 4):
- Tlakový vzduch
- 4.0 – 8.0 bar (60 – 115 psig) – přetlak vzduchu
- 115 – 225 l/m (4 – 8 scfm) – rychlost změny
- kompenzace úniku média – závislá na aplikaci
- Volitelné chlazení vortex
- 710 – 990 l/m (25 – 35 scfm) – vzduch bez olejových par
- 6.2 – 8.0 bar (90 – 115 psig) – přetlak vzduchu
Požadavky na el. napájení:
- 110/240 V, 2.5/1.5 A (47 – 63 Hz)
- (doporučeno napájení od výrobce spektrometru)
Máte dotaz? Požadujete více informací nebo cenovou nabídku?
Zajímá Vás předvedení přístroje?
Napište nám…
Ozveme se vám co nejdříve zpět.







